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產品詳情
簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統(tǒng) ELSZneo
OTSUKA大塚 嵌入式膜厚監(jiān)測儀
詳情介紹：
測量示例
硬涂層膜厚分析
特征
- 使用光譜干涉測量的薄膜測厚儀
- 搭載高精度FFT薄膜厚度分析引擎（磚利第4834847號）
- 光纖可以自由地構建測量系統(tǒng)。
- 可集成到各種制造設備中
- 可進行實時薄膜厚度測量
- 支持遠程操作和多點測量
- 采用長壽命、高穩(wěn)定性白光LED光源
測量項目
- 薄膜厚度
用法
- 光學膜（硬涂層、AR膜、ITO等）
- FPD相關（抗蝕劑，SOI，SiO2等）
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